Se réfère à un matériau nano en trois dimensions avec au moins une dimension d'échelle spatiale est à l'échelle nanométrique (1 à 100 nm) de matériaux peut être divisé en un zéro-dimensionnel, à une dimension, deux dimensions et le matériau à trois dimensions. Comme les nano-matériaux ont de nombreuses propriétés différentes des matériaux macro-échelle, il est largement utilisé dans une variété de nano-dispositifs.
Tektronix a une part de marché dans le domaine des nano-matériaux recherche et d'essai et de mesure des propriétés électriques des dispositifs nano-électronique, 4 Yue 29 Ri (Zhousan) après-midi Tektronix se tiendra sur le thème « NI nano-matériaux et nano-électronique IV et CV (paramètres de base DC) tests » en cours en ligne en direct. Ce cours explique comment faire face aux défis des tests de performances électriques de taille nanométrique, comment choisir l'équipement d'essai approprié, ainsi que la nanoélectronique IV / CV démonstration de test caractéristique .
La diffusion en direct se concentrera sur:
La recherche et l'application des nano-matériaux et dispositifs nanoélectroniques
S caractéristiques des nanomatériaux
o Nano divers dispositifs
o tester les propriétés électriques des nanomatériaux
Tektronix nanofils / nanotubes et un test de dispositif électronique
O Comment tester courant ultra-faible à résoudre?
O comment les nanomatériaux testés dans différents domaines de configuration?
o Pour la R & D et de test ligne de production nano, comment configurer le processus de test?
ordre du jour
202029 Avril PM 14:30-15:30
temps
thème
14: 30-15: 00
NI nano-matériaux et nano-électronique et IV CV (paramètres de base DC) test
Lin Caixia, les experts de l'industrie de test de semi-conducteurs
15: 00-15: 20
Interaction avec des questions et des réponses
15: 20-15: 30
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Haut-parleurs
Lin Caixia, les experts de l'industrie de test de semi-conducteurs. Il travaille maintenant Tektronix Technology (China) Co., Ltd, est responsable du soutien technique dans l'est de la région de la Chine. Au fil des années, nous avons été engagés dans l'essai et les travaux connexes de mesure, a accumulé une riche expérience dans les tests. Actuellement, la direction principale du test comprend un signal de niveau bas, les composants RF / RF et une génération de signal d'essai à large bande et d'analyse, les tests d'intégrité des signaux, des systèmes d'essai automatisé.
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